光矢量分析儀OCI-V

產品型號：

所屬分類：OFDR矢量分析儀

更新時間：2024-11-14

簡要描述：光矢量分析儀OCI-V是一款快速檢測光學器件損耗、色散和偏振等相關參數的光矢量分析系統。

詳細說明：

光矢量分析儀OCI-V其原理是采用線性掃頻光源對待測器件進行掃描，并結合相干檢測技術獲取待測器件的瓊斯矩陣，進而獲得器件插損、色散、偏振相關損耗、偏振模色散等光學參數。該系統采用光路設計以及*算法，實現智能校準，操作簡單，極大節省測試時間。

　　特點：

　　 • 自校準

• 測量長度：200m

　　 • 波段：C+L、O波段（可選）

　　 • 1秒內測量多種光學參數

　　應用：

•平面波導器件、硅光器件、光纖器件。

　　• 波長可調器件、放大器、濾波器。

　　• 測量參數：偏振相關損耗PDL，偏振模色散PMD，插損IL，群延時GD，色散CD，瓊斯矩陣參數，光學相位。

光矢量分析儀OCI-V參數：

備注：

1.透射模式測量長度200m，可拓展反射模式，測量長度為100m；

2.光矢量分析儀(OCI-V)可拓展OFDR功能，測量光纖鏈路。