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熒光壽命成像和相關分析軟件

產品型號: SymPhoTime 64

所屬分類:熒光顯微壽命光譜儀

更新時間:2024-11-14

簡要描述:熒光壽命成像和相關分析軟件SymPhoTime 64是一款集數據采集和分析為一身的軟件,它被用來控制MicroTime 200,MicroTime 100,及LSM升級系統這三種顯微共聚焦系統,和其他TCSPC設備。該軟件需要在64位操作系統下工作,擁有簡單易懂的用戶操作界面。結構清晰,功能強大,使用戶可以更高效的獲取數據分析結果,并可以通過Workspace模式更加直觀的管理數據。

詳細說明:

武漢東隆科技有限公司是德國PicoQuant公司國內總代理,如需了解產品更多詳情,請隨時聯系我們.

熒光壽命成像和相關分析軟件SymPhoTime 64是一款集數據采集和分析為一身的軟件,它被用來控制,,及升級系統這三種顯微共聚焦系統,和其他設備。該軟件需要在位操作系統下工作,擁有簡單易懂的用戶操作界面。結構清晰,功能強大,使用戶可以更高效的獲取數據分析結果,并可以通過模式更加直觀的管理數據。最后,通過基于語言的用戶自定義編譯腳本功能,用戶可以任意改變分析和測量的具體步驟。

特點:

  • 功能強大的64位數據采集和分析軟件

  • 單點,2D,和3D的TTTR數據采集,包含有可在線預覽FLIM,FCS,time trace和TCSPC數據的功能

  • FLIM、快速FLIM和FLIM-FRET

  • FCS、FCCS、FLCS、PIE-FCS,符合相關,總相關分析

  • FRET、PIE-FRET

  • 熒光隨時間的分析及單分子熒光爆發現象分析

  • 各向異性分析

  • TCSPC壽命擬合,包括*的誤差分析

  • 基于"STUPSLANG"語言的用戶自定義編譯腳本功能


應用:

熒光壽命成像和相關分析軟件SymPhoTime 64可以被用于時間分辨共聚焦數據采集實驗,如:

  • 時間分辨熒光

  • 熒光壽命成像(FLIM)

  • 磷光壽命成像(PLIM)

  • 熒光相關光譜(FCS)

  • 熒光壽命相關光譜(FLCS)

  • 熒光共振能量轉移(FRET)

  • 超分辨顯微(STED)

  • 雙聚焦熒光相關光譜(2fFCS)

  • 脈沖交錯激發(PIE)

  • 單分子探測/光譜學

  • Pattern Matching分析

  • 時間分辨磷光(TRPL)

  • TRPL成像

  • 鑭化物上轉換

  • 反聚束


參數:

數據采集

可聯用TCSPC模塊

HydraHarp 400, PicoHarp 330, PicoHarp   300, TimeHarp 260, MultiHarp 150TimeHarp 200 (僅數據導入)

可聯用熒光系統

MicroTime 200
  MicroTime 100

激光掃描顯微系統 (LSM),支持Nikon, Olympus Zeiss品牌
 
單獨的 TCSPC 模塊
 
通過TCP/IP接口遠程控制 (支持ZEN NIS Elements)

探測通道數量

1 8 detectors

采集模式

單點采集,多點采集,2D成像(XYXZYZ)3D成像(XYZ),定時成像(XYT),用于調節系統時使用的示波器模式

采集預覽

FLIM, FCS, FLCS FCCS, Time Trace, TCSPC柱狀圖
 
最多同時在線顯示4種數據

自動化測量

Z軸逐層成像, 定時成像, 圖片縫合, 多點測量

硬件控制

PDL 828 "Sepia II" 激光驅動器
  E-710, E-725, E-727
和寬范圍掃描儀控制器(Physik   Instrumente)

MicroTime 200的快門系統
  MicroTime 200
中寬視場熒光相機IDS uEye USB3

數據分析

總體特點

時間門控
  Binning

TCSPC binning
  TCSPC
擬合(15多指數衰減擬合)

最小平方擬合, 最大可能性估算擬合, IRF解卷積擬合,尾部擬合,自舉誤差分析

TCSPC曲線的全局化分析

圖形化交互界面

成像

FLIM, FLIM-FRET, 熒光強度FRET, 各向異性成像, (時間門控) 熒光強度成像

Pattern Matching, 快速Pattern Matching
 
可調壽命顏色分配及對比度
 
特定區域分析 (ROI)

用于相位分析的 Bin輸出(通過熒光動力學實驗室開發的第三方軟件Globals

相關分析

FCS, FCCS, FLCS, PIEFCS
  STED-FCS, STED-FLCS
  FCS
擬合 (擬合模型: 擴散常數, 三重態, 構象分析, 質子化, 高斯PSF, 用戶自定義, 自舉誤差分析)
 
全局分析
  FCS
校準
 
反聚束/符合相關,總相關

FRET

PIE (脈沖交錯激發)
 
滲濾校正
  FLIM-FRET

STED

STED, 門控STED,   STED-FLIM, 交錯脈沖 STED及共聚焦, 分辨率估計

熒光強度Trace

分子閃爍(On/Off 柱狀圖), 計數率柱狀圖 (PCH), 爆發量柱狀圖, 強度門控制TCSPC, 熒光壽命 Traces, 壽命柱狀圖, BIFL

穩態各向異性

包含物鏡校正系數

導出數據格式

BMP, ASCII, TIFF, BIN

用戶自定義腳本編譯 (STUPSLANG)

用戶自定分析步驟, 擬合功能, 多條件篩選
 
整合控制外部其他器件





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